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SQM测量工具显微镜
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产品名称: SQM测量工具显微镜
产品型号:
SQM
产品展商:
上海西努光学科技有限公司
产品文档:
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简单介绍
SQM测量工具显微镜大理石基台数字成像和影像处理测量技术更大的载物台。400×200的测量行程提高了对工件的处理能力SQM测量工具显微镜采用了正像光学系统（视像中的像与物品方向相同）非接触Z轴高度测量与数据处理系统的协同工作多种照明选择光学十字联动人机工程学设计
SQM测量工具显微镜的详细介绍
SQM测量工具显微镜
大理石基台
数字成像和影像处理测量技术
更大的载物台。400×200的测量行程提高了对工件的处理能力
SQM测量工具显微镜采用了正像光学系统（视像中的像与物品方向相同）
非接触Z轴高度测量与数据处理系统的协同工作
多种照明选择
光学十字联动
人机工程学设计
测量系统 Measuring system
提供了5种行程载物台（100×75mm, 200×100mm,300×100mm,300×150mm,400×200）以供选择，
所有型号精度达到3.5+L / 50μm。 (L为测量长度)。
所有测台均使用美国高精度ACU-RITE光学尺。最小分辨率为1μm.
配备大理石基台（650×440×80mm,450×400×80mm）。
SQM测量工具显微镜使用外置Z轴刻度尺，提供多种数显千分尺表头以及高精度线形测微计供您选择（可根据产业不同选择），显示精度因配件而异，由1μm到1.11μm。
应用领域 Applications
◆ 半导体封装 Semiconductor encapsulation
◆ 光纤端子台阶测量 Measurement of height of IC probe, bonding wire,lead frame and etc.
◆ MEMS MEMS
◆ 硬盘滑行磁头 HDD arm
◆ 焊接贴片 SMT
◆ 精密刀具、晶片级CSP、冲压部件注塑部件 Tools/Wafer Level CSP/Punching Components/Molds
SQM测量工具显微镜 最新应用 Recent Application
探针卡 (Probe Card)
案例 Example
标准夏比V型试样缺口检查 Standard Charpy Impact test on Steel(V-notches)